Infrared ellipsometry characterization of conducting thin organic filmsVise andre og tillknytning
2004 (engelsk)Inngår i: Elsevier Science, ISSN 1626-3200, Vol. 455-456, s. 295-300Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert) Published
sted, utgiver, år, opplag, sider
2004. Vol. 455-456, s. 295-300
HSV kategori
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-41358DOI: 10.1016/j.tsf.2003.11.194Lokal ID: 55660OAI: oai:DiVA.org:liu-41358DiVA, id: diva2:262210
2009-10-102009-10-102013-10-14