liu.seSearch for publications in DiVA
Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Infrared ellipsometry characterization of conducting thin organic films
Inst for Experimental Physics II University of Leipzig.
Inst for Experimental Physics University of Leipzig.
JOANNEUM Research Forschungsgesellschaft mbH, Austria.
JOANNEUM Research Forschungsgesellschaft Mbh, Austria.
Vise andre og tillknytning
2004 (engelsk)Inngår i: Elsevier Science, ISSN 1626-3200, Vol. 455-456, s. 295-300Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert) Published
sted, utgiver, år, opplag, sider
2004. Vol. 455-456, s. 295-300
HSV kategori
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-41358DOI: 10.1016/j.tsf.2003.11.194Lokal ID: 55660OAI: oai:DiVA.org:liu-41358DiVA, id: diva2:262210
Tilgjengelig fra: 2009-10-10 Laget: 2009-10-10 Sist oppdatert: 2013-10-14

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Andre lenker

Forlagets fulltekst

Personposter BETA

Arwin, HansPersson, Nils-KristerZhang, FenglingInganäs, Olle

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Arwin, HansPersson, Nils-KristerZhang, FenglingInganäs, Olle
Av organisasjonen

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetric

doi
urn-nbn
Totalt: 229 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf