liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Infrared ellipsometry characterization of conducting thin organic films
Inst for Experimental Physics II University of Leipzig.
Inst for Experimental Physics University of Leipzig.
JOANNEUM Research Forschungsgesellschaft mbH, Austria.
JOANNEUM Research Forschungsgesellschaft Mbh, Austria.
Visa övriga samt affilieringar
2004 (Engelska)Ingår i: Elsevier Science, ISSN 1626-3200, Vol. 455-456, s. 295-300Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2004. Vol. 455-456, s. 295-300
Nationell ämneskategori
Naturvetenskap
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-41358DOI: 10.1016/j.tsf.2003.11.194Lokalt ID: 55660OAI: oai:DiVA.org:liu-41358DiVA, id: diva2:262210
Tillgänglig från: 2009-10-10 Skapad: 2009-10-10 Senast uppdaterad: 2013-10-14

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Personposter BETA

Arwin, HansPersson, Nils-KristerZhang, FenglingInganäs, Olle

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Arwin, HansPersson, Nils-KristerZhang, FenglingInganäs, Olle
Av organisationen
Tekniska högskolanTillämpad optikBiomolekylär och Organisk Elektronik
Naturvetenskap

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 229 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf