liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Fault-tolerant average execution time optimization for general-purpose multi-processor system-on-chips
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
Supercomputer Education and Research Centre, Indian Institute of Science, India.
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
2009 (Engelska)Ingår i: Proceedings -Design, Automation and Test in Europe, DATE, 2009, s. 484-489Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

Fault-tolerance is due to the semiconductor technology development important, not only for safety-critical systems but also for general-purpose (non-safety critical) systems. However, instead of guaranteeing that deadlines always are met, it is for general-purpose systems important to minimize the average execution time (AET) while ensuring fault-tolerance. For a given job and a soft (transient) error probability, we define mathematical formulas for AET that includes bus communication overhead for both voting (active replication) and rollback-recovery with checkpointing (RRC). And, for a given multi-processor system-on-chip (MPSoC), we define integer linear programming (ILP) models that minimize AET including bus communication overhead when: (1) selecting the number of checkpoints when using RRC, (2) finding the number of processors and job-to-processor assignment when using voting, and (3) defining fault-tolerance scheme (voting or RRC) per job and defining its usage for each job. Experiments demonstrate significant savings in AET.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2009. s. 484-489
Nationell ämneskategori
Teknik och teknologier
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-52992DOI: 10.1109/DATE.2009.5090713ISI: 000273246700086ISBN: 978-1-4244-3781-8 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:liu-52992DiVA, id: diva2:286358
Konferens
2009 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE '09; Nice; France
Tillgänglig från: 2010-01-14 Skapad: 2010-01-14 Senast uppdaterad: 2014-09-08

Open Access i DiVA

fulltext(167 kB)181 nedladdningar
Filinformation
Filnamn FULLTEXT01.pdfFilstorlek 167 kBChecksumma SHA-512
d7fcd8a1e6fe0ab8ee3250e7e6b2291b508fe699df9e066cc317bb6a05903ea08e2b5798bffe7ddf2d21a872290b5bf3b8a915784721e33becb54a978874323c
Typ fulltextMimetyp application/pdf

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Personposter BETA

Larsson, Erik

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Larsson, Erik
Av organisationen
Institutionen för datavetenskapTekniska högskolanESLAB - Laboratoriet för inbyggda system
Teknik och teknologier

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar
Totalt: 181 nedladdningar
Antalet nedladdningar är summan av nedladdningar för alla fulltexter. Det kan inkludera t.ex tidigare versioner som nu inte längre är tillgängliga.

doi
isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
isbn
urn-nbn
Totalt: 87 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf