liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
The role of defects on optical and electrical properties of SiC
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Halvledarmaterial. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Halvledarmaterial. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.ORCID-id: 0000-0001-5768-0244
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Halvledarmaterial. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
Visa övriga samt affilieringar
2000 (Engelska)Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

In this work we describe some of the defects in SiC observable using different optical characterisation techniques. This includes photoluminescence measurements to determine the presence of different defects. We also show that optical techniques can be developed for mapping characterisation, which are useful both for routine measurements and for determine spatial variations and presence of defects over larger areas. One such example is the lifetime mappings on epitaxial layers on entire wafers, which has shown the importance of structural defects replicated into the epitaxial layer. Optical measurements have also been correlated to structural measurements from X-ray topography to demonstrate the importance of the structural defects

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
IEEE , 2000. s. 283-290
Nationell ämneskategori
Naturvetenskap
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-63075DOI: 10.1109/SIM.2000.939244ISBN: 0-7803-5814-7 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:liu-63075DiVA, id: diva2:376042
Konferens
SIMC-XI International Semiconducting and Insulating Materials Conference, 3-7 July 2000, Canberra, ACT, Australia
Tillgänglig från: 2010-12-09 Skapad: 2010-12-09 Senast uppdaterad: 2015-03-25

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Person

Bergman, PederHenry, AnneStorasta, LiutaurasJanzén, Erik

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Bergman, PederHenry, AnneStorasta, LiutaurasJanzén, Erik
Av organisationen
HalvledarmaterialTekniska högskolan
Naturvetenskap

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
isbn
urn-nbn
Totalt: 146 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf