liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
XPS study of palladium sensitized nano porous silicon thin film
Jadavpur University.
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Molekylär ytfysik och nanovetenskap. Linköpings universitet, Tekniska fakulteten.
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Molekylär ytfysik och nanovetenskap. Linköpings universitet, Tekniska fakulteten.
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Molekylär ytfysik och nanovetenskap. Linköpings universitet, Tekniska fakulteten.
Visa övriga samt affilieringar
2010 (Engelska)Ingår i: BULLETIN OF MATERIALS SCIENCE, ISSN 0250-4707, Vol. 33, nr 6, s. 647-651Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

Nano porous silicon (PS) was formed on p-type monocrystalline silicon of 2-5 Omega cm resistivity and (100) orientation by electrochemical anodization method using HF and ethanol as the electrolytes. High density of surface states, arising due to its nano structure, is responsible for the uncontrolled oxidation in air and for the deterioration of the PS surface with time. To stabilize the material PS surface was modified by a simple and low cost chemical method using PdCl2 solution at room temperature. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was performed to reveal the chemical composition and the relative concentration of palladium on the nanoporous silicon thin films. An increase of SiO2 formation was observed after PdCl2 treatment and presence of palladium was also detected on the modified surface. I-V characteristics of Al/PS junction were studied using two lateral Al contacts and a linear relationship was obtained for Pd modified PS surface. Stability of the contact was studied for a time period of around 30 days and no significant ageing effect could be observed.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Indian Academy of Sciences; 1999 / Indian Academy of Sciences, Springer , 2010. Vol. 33, nr 6, s. 647-651
Nyckelord [en]
Porous silicon, passivation, palladium, oxidation, XPS
Nationell ämneskategori
Teknik och teknologier
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-67029DOI: 10.1007/s12034-011-0138-9ISI: 000288185200001OAI: oai:DiVA.org:liu-67029DiVA, id: diva2:406282
Tillgänglig från: 2011-03-25 Skapad: 2011-03-25 Senast uppdaterad: 2015-05-29

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Personposter BETA

Selegård, LinnéaVahlberg, CeciliaUvdal, Kajsa

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Selegård, LinnéaVahlberg, CeciliaUvdal, Kajsa
Av organisationen
Molekylär ytfysik och nanovetenskapTekniska fakulteten
Teknik och teknologier

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 159 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf