liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Test Cost Modeling for 3D Stacked Chips with Through-Silicon Vias
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system. Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, Programvara och system. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system.
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system.
2011 (Engelska)Ingår i: The 11th Swedish System-on-Chip Conference, Varberg, Sweden, May 2-3, 2011, 2011Konferensbidrag, Publicerat paper (Övrigt vetenskapligt)
Abstract [en]

In this paper we have proposed a test cost model for core-based 3D Stacked ICs (SICs) connected by Through Silicon Vias (TSVs). Unlike in the case of non-stacked chips, where the test flow is well defined by applying the same test schedule both at wafer sort and at package test, the most cost-efficient test flow for 3D TSV-SICs is yet undefined. Therefore, analysing the various alternatives of test flow, we present a cost model with the optimal test flow. In the test flow alternatives, we analyse the effect of all possible moments of testing for a 3D TSV-SIC, viz., wafer sort, intermediate test and package test. For the optimal test flow, we have performed experiments with various varying yield and test time parameters, which further support our claim.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2011.
Nationell ämneskategori
Teknik och teknologier
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-69731OAI: oai:DiVA.org:liu-69731DiVA, id: diva2:432221
Konferens
SSoCC'11
Tillgänglig från: 2011-08-01 Skapad: 2011-08-01 Senast uppdaterad: 2013-05-13

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Personposter BETA

SenGupta, Breeta

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
SenGupta, Breeta
Av organisationen
ESLAB - Laboratoriet för inbyggda systemProgramvara och systemTekniska högskolan
Teknik och teknologier

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 24 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf