liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Cuticle structure of the scarab beetle Cetonia aurata analyzed by regression analysis of Mueller-matrix ellipsometric data
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Tillämpad optik. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Tillämpad optik. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
JA Woollam Co Inc, NE USA .
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Tillämpad optik. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
2013 (Engelska)Ingår i: Optics Express, ISSN 1094-4087, E-ISSN 1094-4087, Vol. 21, nr 19, s. 22645-22656Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

Since one hundred years it is known that some scarab beetles reflect elliptically and near-circular polarized light as demonstrated by Michelson for the beetle Chrysina resplendens. The handedness of the polarization is in a majority of cases left-handed but also right-handed polarization has been found. In addition, brilliant colors with metallic shine are observed. The polarization and color effects are generated in the beetle exoskeleton, the so-called cuticle. The objective of this work is to demonstrate that structural parameters and materials optical functions of these photonic structures can be extracted by advanced modeling of spectral multi-angle Mueller-matrix data recorded from beetle cuticles. A dual-rotating compensator ellipsometer is used to record normalized Mueller-matrix data in the spectral range 400 – 800 nm at angles of incidence in the range 25–75°. Analysis of data measured on the scarab beetle Cetonia aurata are presented in detail. The model used in the analysis mimics a chiral nanostructure and is based on a twisted layered structure. Given the complexity of the nanostructure, an excellent fit between experimental and model data is achieved. The obtained model parameters are the spectral variation of the refractive indices of the cuticle layers and structural parameters of the chiral structure.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Optical Society of America , 2013. Vol. 21, nr 19, s. 22645-22656
Nationell ämneskategori
Teknik och teknologier
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-100495DOI: 10.1364/OE.21.022645ISI: 000325547200087OAI: oai:DiVA.org:liu-100495DiVA, id: diva2:662886
Anmärkning

Funding Agencies|Swedish Research Council||

Tillgänglig från: 2013-11-08 Skapad: 2013-11-08 Senast uppdaterad: 2017-12-06

Open Access i DiVA

fulltext(2582 kB)460 nedladdningar
Filinformation
Filnamn FULLTEXT01.pdfFilstorlek 2582 kBChecksumma SHA-512
a01e5981027c6f568a945f5f545a2bc82e1bbea05a1b099b1c9a811d9ec997bd077f779c479a6097a5ca0416adf47705f081469c88e888e69c0a81ffdbc1aa2b
Typ fulltextMimetyp application/pdf

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Personposter BETA

Arwin, HansBerlind, TorunJärrendahl, Kenneth

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Arwin, HansBerlind, TorunJärrendahl, Kenneth
Av organisationen
Tillämpad optikTekniska högskolan
I samma tidskrift
Optics Express
Teknik och teknologier

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar
Totalt: 460 nedladdningar
Antalet nedladdningar är summan av nedladdningar för alla fulltexter. Det kan inkludera t.ex tidigare versioner som nu inte längre är tillgängliga.

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 341 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf