liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
An Integrated Framework for the Design and Optimization of SOC Test Solutions
Linköpings universitet, Tekniska högskolan. Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system.
Linköpings universitet, Tekniska högskolan. Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system.
2002 (Engelska)Ingår i: SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation. / [ed] Krishnendu Chakrabarty, Boston, USA: Kluwer Academic Publishers , 2002, s. 21-36Kapitel i bok, del av antologi (Övrigt vetenskapligt)
Abstract [en]

We propose an integrated framework for the design of SOC test solutions, which includes a set of algorithms for early design space exploration as well as extensive optimization for the final solution. The framework deals with test scheduling, test access mechanism design, test sets selection, and test resource placement. Our approach minimizes the test application time and the cost of the test access mechanism while considering constraints on tests and power consumption. The main feature of our approach is that it provides an integrated design environment to treat several different tasks at the same time, which were traditionally dealt with as separate problems. We have made an implementation of the proposed heuristic used for the early design space exploration and an implementation based on Simulated Annealing for the extensive optimization. Experiments on several benchmarks and industrial designs show the usefulness and efficiency of our approach.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Boston, USA: Kluwer Academic Publishers , 2002. s. 21-36
Serie
Frontiers in Electronic Testing ; 21
Nyckelord [en]
SOC, system-on-chip, test power consumption, test optimization
Nationell ämneskategori
Datavetenskap (datalogi)
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-23341Lokalt ID: 2774ISBN: 1-4020-7205-8 (tryckt)ISBN: 978-1-4020-7205-5 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:liu-23341DiVA, id: diva2:243655
Tillgänglig från: 2009-10-07 Skapad: 2009-10-07 Senast uppdaterad: 2018-01-13Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

find book at a swedish library/hitta boken i ett svenskt bibliotekläs utdragfind book in another country/hitta boken i ett annat land

Personposter BETA

Larsson, ErikPeng, Zebo

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Larsson, ErikPeng, Zebo
Av organisationen
Tekniska högskolanESLAB - Laboratoriet för inbyggda system
Datavetenskap (datalogi)

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

isbn
urn-nbn
Totalt: 116 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf