liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
An Integrated Framework for the Design and Optimization of SOC Test Solutions
Linköpings universitet, Tekniska högskolan. Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system.
Linköpings universitet, Tekniska högskolan. Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system.
2002 (Engelska)Ingår i: Journal of electronic testing, ISSN 0923-8174, E-ISSN 1573-0727, Vol. 18, nr 4-5, s. 385-400Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

We propose an integrated framework for the design of SOC test solutions, which includes a set of algorithms for early design space exploration as well as extensive optimization for the final solution. The framework deals with test scheduling, test access mechanism design, test sets selection, and test resource placement. Our approach minimizes the test application time and the cost of the test access mechanism while considering constraints on tests and power consumption. The main feature of our approach is that it provides an integrated design environment to treat several different tasks at the same time, which were traditionally dealt with as separate problems. We have made an implementation of the proposed heuristic used for the early design space exploration and an implementation based on Simulated Annealing for the extensive optimization. Experiments on several benchmarks and industrial designs show the usefulness and efficiency of our approach.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2002. Vol. 18, nr 4-5, s. 385-400
Nyckelord [en]
SOC, test access mechanism, power consuption, test resource placement, test scheduling
Nationell ämneskategori
Datavetenskap (datalogi)
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-23363Lokalt ID: 2799OAI: oai:DiVA.org:liu-23363DiVA, id: diva2:243677
Tillgänglig från: 2009-10-07 Skapad: 2009-10-07 Senast uppdaterad: 2018-01-13

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

http://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/jetta02.pdf

Personposter BETA

Larsson, ErikPeng, Zebo

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Larsson, ErikPeng, Zebo
Av organisationen
Tekniska högskolanESLAB - Laboratoriet för inbyggda system
I samma tidskrift
Journal of electronic testing
Datavetenskap (datalogi)

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 122 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf