liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Combined Test Data Selection and Scheduling for Test Quality Optimization under ATE Memory Depth Constraint
Linköpings universitet, Tekniska högskolan. Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system.
Dept. Computer and Information Science Linköpings Universitet.
2005 (Engelska)Ingår i: IFIP WG 10.5 Conference on Very Large Scale Integration System-on-Chip {IFIP VLSI-SOC 2005},2005, 2005, s. 429-434Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

The increasing test data volume required to ensure high test quality when testing a System-on-Chip is becoming a problem since it (the test data volume) must fit the ATE (Automatic Test Equipment) memory. In this paper, we (1) define a test quality metric based on fault coverage, defect probability and number of applied test vectors, and (2) a test data truncation scheme. The truncation scheme combines (1) test data (vector) selection for each core based on our metric, and (2) scheduling of the execution of the selected test data, in such a way that the system test quality is maximized, while the selected test data is guaranteed to fit the ATEs memory. We have implemented the technique and the experimental results, produced at reasonable CPU times, on several ITC02 benchmarks show that high test quality can be achieved by a careful selection of test data.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2005. s. 429-434
Nyckelord [en]
testing, test scheduling, test quality optimization, ATE memory
Nationell ämneskategori
Datavetenskap (datalogi)
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-29354Lokalt ID: 14677OAI: oai:DiVA.org:liu-29354DiVA, id: diva2:250166
Tillgänglig från: 2009-10-09 Skapad: 2009-10-09 Senast uppdaterad: 2018-01-13

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

http://www.ida.liu.se/labs/eslab/publications/pap/db/erila_vlsi_soc05.final.pdf

Personposter BETA

Larsson, Erik

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Larsson, Erik
Av organisationen
Tekniska högskolanESLAB - Laboratoriet för inbyggda system
Datavetenskap (datalogi)

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 17 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf