liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
High-Quality Low-Cost Test and DfT for an Embedded Asynchronous FIFO
Philips Research Labs.
Philips Research Labs.
Linköpings universitet, Tekniska högskolan. Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system.
Philips Research Labs.
Visa övriga samt affilieringar
2006 (Engelska)Ingår i: 14th Philips Research IC Test Seminar,2006, 2006Konferensbidrag, Publicerat paper (Övrigt vetenskapligt)
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2006.
Nyckelord [en]
testing, design for testability, embedded systems, FIFO
Nationell ämneskategori
Datavetenskap (datalogi)
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-35456Lokalt ID: 26909OAI: oai:DiVA.org:liu-35456DiVA, id: diva2:256304
Tillgänglig från: 2009-10-10 Skapad: 2009-10-10 Senast uppdaterad: 2018-01-13

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Personposter BETA

Larsson, Erik

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Larsson, Erik
Av organisationen
Tekniska högskolanESLAB - Laboratoriet för inbyggda system
Datavetenskap (datalogi)

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 64 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf