High-Quality Low-Cost Test and DfT for an Embedded Asynchronous FIFOVisa övriga samt affilieringar
2006 (Engelska)Ingår i: 14th Philips Research IC Test Seminar,2006, 2006Konferensbidrag, Publicerat paper (Övrigt vetenskapligt)
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2006.
Nyckelord [en]
testing, design for testability, embedded systems, FIFO
Nationell ämneskategori
Datavetenskap (datalogi)
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-35456Lokalt ID: 26909OAI: oai:DiVA.org:liu-35456DiVA, id: diva2:256304
2009-10-102009-10-102018-01-13