liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Photoluminescence study of Si/Ge quantum dots
Linköpings universitet, Tekniska högskolan. Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Materiefysik.
Linköpings universitet, Tekniska högskolan. Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Yt- och Halvledarfysik.
Linköpings universitet, Tekniska högskolan. Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Materiefysik.
Linköpings universitet, Tekniska högskolan. Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Yt- och Halvledarfysik.
Visa övriga samt affilieringar
2003 (Engelska)Ingår i: Surface Science, ISSN 0039-6028, E-ISSN 1879-2758, Vol. 532-535, s. 832-836Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

Ge quantum dots embedded in Si are studied by means of photoluminescence (PL). The temperature dependent PL measurements show two different types of recombination processes related to the quantum dots. We ascribe a peak near 0.80 eV to the spatially indirect recombination in the type-II band lineup where the electron is located in the surrounding Si close to the interface and the hole in the Ge dot. Furthermore, a peak near 0.85 eV is attributed to the spatially direct recombination. We observe a transition from the spatially indirect to the spatially direct recombination as the temperature is increased. The measurements also show an up-shift of the Ge quantum dot emission energy with increasing excitation power density. The blueshift is primarily ascribed to an enhanced confinement of the electron associated with the increased band bending at the type-II Si/Ge interface at high carrier densities. Comparison is made with results, derived from measurements on uncapped samples. For these uncapped samples, no energy shifts due to excitation power or temperatures are observed in contrast to the capped samples. ⌐ 2003 Elsevier Science B.V. All rights reserved.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2003. Vol. 532-535, s. 832-836
Nationell ämneskategori
Naturvetenskap
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-40677DOI: 10.1016/S0039-6028(03)00461-8Lokalt ID: 53856OAI: oai:DiVA.org:liu-40677DiVA, id: diva2:261526
Tillgänglig från: 2009-10-10 Skapad: 2009-10-10 Senast uppdaterad: 2017-12-13

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Personposter BETA

Larsson, MatsElfving, AndersHoltz, Per-OlofHansson, GöranNi, Wei-Xin

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Larsson, MatsElfving, AndersHoltz, Per-OlofHansson, GöranNi, Wei-Xin
Av organisationen
Tekniska högskolanMateriefysikYt- och Halvledarfysik
I samma tidskrift
Surface Science
Naturvetenskap

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 129 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf