liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Metastable defects in low-energy electron irradiated n-type 4H-SiC
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Halvledarmaterial. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Halvledarmaterial. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.ORCID-id: 0000-0002-2597-3322
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Halvledarmaterial. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.ORCID-id: 0000-0002-7171-5383
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Halvledarmaterial. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.ORCID-id: 0000-0001-5768-0244
Visa övriga samt affilieringar
2010 (Engelska)Ingår i: Materials Science Forum, Vols. 645-648, Trans Tech Publications , 2010, Vol. 645-648, s. 435-438Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

After low-energy electron irradiation of epitaxial n-type 4H-SiC, the DUES peak amplitudes. of the defects Z(1/2) and EH6/7, which were already observed in as-grown layers, increased and the commonly found peaks EH1 and EH3 appeared. The bistable M-center, previously seen in high-energy proton implanted 4H-SiC, was detected. New bistable defects, the EB-centers, evolved after annealing out of the M-center, and EF3. The reconfiguration energies for one of the two EB-centers were determined to be about 0.96 eV for both transitions: from configuration I to II and from configuration II to I. Since low-energy electron irradiation (less than220 keV) affects mainly the carbon atom in SiC, both the M- and EB-centers are likely to be carbon related defects.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Trans Tech Publications , 2010. Vol. 645-648, s. 435-438
Nyckelord [en]
metastable defects; bistability; electron irradiation; DLTS
Nationell ämneskategori
Teknik och teknologier
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-58213DOI: 10.4028/www.scientific.net/MSF.645-648.435ISI: 000279657600104OAI: oai:DiVA.org:liu-58213DiVA, id: diva2:338102
Konferens
ICSCRM2009
Anmärkning
Original Publication: Franziska Beyer, Carl Hemmingsson, Henrik Pedersen, Anne Henry, Junichi Isoya, Norio Morishita, Takeshi Ohshima and Erik Janzén, Metastable defects in low-energy electron irradiated n-type 4H-SiC, 2010, Materials Science Forum, (645-648), 435-438. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.645-648.435 Copyright: Transtec Publications http://www.ttp.net/ Tillgänglig från: 2010-08-10 Skapad: 2010-08-09 Senast uppdaterad: 2015-09-22

Open Access i DiVA

fulltext(214 kB)702 nedladdningar
Filinformation
Filnamn FULLTEXT01.pdfFilstorlek 214 kBChecksumma SHA-512
6caa778079177b4061408049567c103fe395641cb83129b7da5076362c93418f0fff1402ee7e82779cb473e0d5d72f37f3eab333a0fe29993125bc8dadeeaa04
Typ fulltextMimetyp application/pdf

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Personposter BETA

Beyer, FranziskaHemmingsson, CarlPedersen, HenrikHenry, AnneJanzén, Erik

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Beyer, FranziskaHemmingsson, CarlPedersen, HenrikHenry, AnneJanzén, Erik
Av organisationen
HalvledarmaterialTekniska högskolan
Teknik och teknologier

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar
Totalt: 702 nedladdningar
Antalet nedladdningar är summan av nedladdningar för alla fulltexter. Det kan inkludera t.ex tidigare versioner som nu inte längre är tillgängliga.

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 221 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf