liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
On Scan Chain Diagnosis for Intermittent Faults
NXP Semiconductors corp., Eindhoven, the Netherlands.
Philips Applied Technologies, Eindhoven, the Netherlands.
IMEC, Leuven, Belgium.
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
2009 (Engelska)Ingår i: IEEE Asian Test Symposium (ATS), Taichung, Taiwan, November 23-26, 2009., 2009, s. 47-54Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

Diagnosis is increasingly important, not only for individual analysis of failing ICs, but also for high-volume test response analysis which enables yield and test improvement. Scan chain defects constitute a significant fraction of the overall digital defect universe, and hence it is well justified that scan chain diagnosis has received increasing research attention in recent years. In this paper, we address the problem of scan chain diagnosis for intermittent faults. We show that the conventional scan chain test pattern is likely to miss an intermittent fault, or inaccurately diagnose it. We propose an improved scan chain test pattern which we show to be effective. Subsequently, we demonstrate that the conventional bound calculation algorithm is likely to produce wrong results in the case of an intermittent fault. We propose a new lowerbound calculation method which does generate correct and tight bounds, even for an intermittence probability as low as 10%.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2009. s. 47-54
Nationell ämneskategori
Teknik och teknologier
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-59586DOI: 10.1109/ATS.2009.74OAI: oai:DiVA.org:liu-59586DiVA, id: diva2:352607
Tillgänglig från: 2010-09-21 Skapad: 2010-09-21 Senast uppdaterad: 2010-09-30

Open Access i DiVA

fulltext(228 kB)1032 nedladdningar
Filinformation
Filnamn FULLTEXT01.pdfFilstorlek 228 kBChecksumma SHA-512
95bd893f33f490904294a7239598711fe548adc24da72335ae6a86ee90fd8f780a274f2bee96c2534f8b45414b97810072a75cef35f3f72edb123387b639db17
Typ fulltextMimetyp application/pdf

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Personposter BETA

Larsson, Erik

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Larsson, Erik
Av organisationen
ESLAB - Laboratoriet för inbyggda systemTekniska högskolan
Teknik och teknologier

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar
Totalt: 1032 nedladdningar
Antalet nedladdningar är summan av nedladdningar för alla fulltexter. Det kan inkludera t.ex tidigare versioner som nu inte längre är tillgängliga.

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 336 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf