liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Deterministic Scan-Chain Diagnosis for Intermittent Faults
NXP Semiconductors corp., Eindhoven, the Netherlands.
Philips Applied Technologies, Eindhoven, the Netherlands.
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
IMEC, Leuven, Belgium).
2009 (Engelska)Ingår i: European Test Symposium (ETS 2009), Sevilla, Spain, May 25-29, 2009 (Poster)., 2009Konferensbidrag, Publicerat paper (Övrigt vetenskapligt)
Ort, förlag, år, upplaga, sidor
2009.
Nationell ämneskategori
Teknik och teknologier
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-59589OAI: oai:DiVA.org:liu-59589DiVA, id: diva2:352611
Tillgänglig från: 2010-09-21 Skapad: 2010-09-21 Senast uppdaterad: 2010-09-30

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Personposter BETA

Larsson, Erik

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Larsson, Erik
Av organisationen
ESLAB - Laboratoriet för inbyggda systemTekniska högskolan
Teknik och teknologier

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetricpoäng

urn-nbn
Totalt: 242 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf