liu.seSearch for publications in DiVA
Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Deterministic Scan-Chain Diagnosis for Intermittent Faults
NXP Semiconductors corp., Eindhoven, the Netherlands.
Philips Applied Technologies, Eindhoven, the Netherlands.
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
IMEC, Leuven, Belgium).
2009 (engelsk)Inngår i: European Test Symposium (ETS 2009), Sevilla, Spain, May 25-29, 2009 (Poster)., 2009Konferansepaper, Publicerat paper (Annet vitenskapelig)
sted, utgiver, år, opplag, sider
2009.
HSV kategori
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-59589OAI: oai:DiVA.org:liu-59589DiVA, id: diva2:352611
Tilgjengelig fra: 2010-09-21 Laget: 2010-09-21 Sist oppdatert: 2010-09-30

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Personposter BETA

Larsson, Erik

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Larsson, Erik
Av organisasjonen

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

urn-nbn

Altmetric

urn-nbn
Totalt: 242 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf