liu.seSearch for publications in DiVA
Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Thermal Aware Test Scheduling for Stacked Multi-Chip-Modules
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
Vise andre og tillknytning
2010 (engelsk)Inngår i: IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS10), St. Petersburg, Russia, September 17-20, 2010., IEEE , 2010, s. 343-349Konferansepaper, Publicerat paper (Fagfellevurdert)
sted, utgiver, år, opplag, sider
IEEE , 2010. s. 343-349
HSV kategori
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-59595DOI: 10.1109/EWDTS.2010.5742053ISBN: 978-1-4244-9555-9 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:liu-59595DiVA, id: diva2:352617
Tilgjengelig fra: 2010-09-21 Laget: 2010-09-21 Sist oppdatert: 2013-09-17

Open Access i DiVA

Fulltekst mangler i DiVA

Andre lenker

Forlagets fulltekst

Personposter BETA

Larsson, Erik

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Larsson, Erik
Av organisasjonen

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
isbn
urn-nbn

Altmetric

doi
isbn
urn-nbn
Totalt: 18 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf