liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Measurement Point Selection for In-Operation Wear-Out Monitoring
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system. Linköpings universitet, Utbildningsvetenskap.
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
2011 (Engelska)Ingår i: 14th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS11), Cottbus, Germany, April 13-15, 2011., IEEE , 2011, s. 381-386Konferensbidrag, Publicerat paper (Refereegranskat)
Abstract [en]

In recent IC designs, the risk of early failure due to electromigration wear-out has increased due to reduced feature dimensions. To give a warning of impending failure, wearout monitoring approaches have included delay measurement circuitry on-chip. Due to the high cost of delay measurement circuitry this paper presents a method to reduce the number of necessary measurement points. The proposed method is based on identification of wear-out sensitive interconnects and selects a small number of measurement points that can be used to observe the state of all the wear-out sensitive interconnects. The method is demonstrated on ISCAS85 benchmark ICs with encouraging results.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
IEEE , 2011. s. 381-386
Nationell ämneskategori
Teknik och teknologier
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-66349DOI: 10.1109/DDECS.2011.5783115ISBN: 978-1-4244-9755-3 (tryckt)OAI: oai:DiVA.org:liu-66349DiVA, id: diva2:403343
Konferens
14th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2011; Cottbus; Germany
Tillgänglig från: 2011-03-11 Skapad: 2011-03-11 Senast uppdaterad: 2018-09-11Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Personposter BETA

Ingelsson, UrbanChang, Shih-YenLarsson, Erik

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Ingelsson, UrbanChang, Shih-YenLarsson, Erik
Av organisationen
ESLAB - Laboratoriet för inbyggda systemTekniska högskolanUtbildningsvetenskap
Teknik och teknologier

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
isbn
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
isbn
urn-nbn
Totalt: 50 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • harvard1
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf