liu.seSearch for publications in DiVA
Endre søk
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Reusing and Retargeting On-Chip Instrument Access Procedures in IEEE P1687
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
Linköpings universitet, Institutionen för datavetenskap, ESLAB - Laboratoriet för inbyggda system. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.
Ericsson, Linköping, Sweden.
Lund University, Sweden.
2012 (engelsk)Inngår i: IEEE Design & Test of Computers, ISSN 0740-7475, E-ISSN 1558-1918, Vol. 29, nr 2, s. 79-88Artikkel i tidsskrift (Fagfellevurdert) Published
Abstract [en]

This paper discusses the reuse and retargeting of test instruments and test patterns using the IEEE P1687 standard in an era where reuse of existing functional elements and integration of IP blocks is accelerating rapidly. It briefly discusses the deficiencies of existing 1149.1 (JTAG) and 1500 standards and demonstrates how the new standard, P1687, plugs these exposures by specifying JTAG as an off-chip to on-chip interface to the instrument access infrastructure. It provides a simple example to underscore the need for the standard and then builds on this example to show how the standard can be used for more complex situations.

sted, utgiver, år, opplag, sider
IEEE , 2012. Vol. 29, nr 2, s. 79-88
Emneord [en]
IEEE P1687, on-chip instruments, access procedures, ICL, PDL, reuse and retargeting
HSV kategori
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-73803DOI: 10.1109/MDT.2012.2182984ISI: 000306207100011OAI: oai:DiVA.org:liu-73803DiVA, id: diva2:477654
Tilgjengelig fra: 2012-01-13 Laget: 2012-01-13 Sist oppdatert: 2018-01-12bibliografisk kontrollert

Open Access i DiVA

fulltext(619 kB)2202 nedlastinger
Filinformasjon
Fil FULLTEXT01.pdfFilstørrelse 619 kBChecksum SHA-512
ccde555b1148b9be4380267b460d88e94497fb871e13640f9e0db5053fcd96b04ffdef802984f9e16d976415e6703c4f14e0fc0d14e8183f7dc1c6f50d5922ec
Type fulltextMimetype application/pdf

Andre lenker

Forlagets fulltekst

Person

Zadegan, Farrokh GhaniIngelsson, UrbanLarsson, Erik

Søk i DiVA

Av forfatter/redaktør
Zadegan, Farrokh GhaniIngelsson, UrbanLarsson, Erik
Av organisasjonen
I samme tidsskrift
IEEE Design & Test of Computers

Søk utenfor DiVA

GoogleGoogle Scholar
Totalt: 2212 nedlastinger
Antall nedlastinger er summen av alle nedlastinger av alle fulltekster. Det kan for eksempel være tidligere versjoner som er ikke lenger tilgjengelige

doi
urn-nbn

Altmetric

doi
urn-nbn
Totalt: 164 treff
RefereraExporteraLink to record
Permanent link

Direct link
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annet format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annet språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf