liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
The water-forming reaction on thin, SiO2 supported, palladium films
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Kemiska och optiska sensorsystem. Linköpings universitet, Tekniska fakulteten. (Tillämpad Fysik)ORCID-id: 0000-0002-0873-2877
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Tunnfilmsfysik. Linköpings universitet, Tekniska fakulteten.ORCID-id: 0000-0002-2837-3656
Tekniska högskolan.
1990 (Engelska)Ingår i: Vacuum, ISSN 0042-207X, E-ISSN 1879-2715, Vol. 41, nr 1-3, s. 137-138Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

The water-forming reaction has been studied on thin Pd films, evaporated on planar SiO2 substrates. The nominal film thickness varied between 5 and 100 Å. The studies were performed in uhv by means of mass spectrometry, UPS and work function measurements in the temperature range 323–523 K. The film structure was also studied with TEM. The results are compared with previous measurements on 1000 Å, thick, homogeneous Pd films. The structure of the thin Pd films changed dramatically during cyclic H2 and O2 exposures, from that of a continuous film with cracks to that of drop-like metal particles. These structural changes are not observed on the thick (1000 Å) Pd films. Even though there are large structural changes, the water-forming reaction looks qualitatively the same as on a thick Pd film. The total water production however, decreases with decreasing film thickness. We believe that some minor qualitative differences in the water-forming reaction for different nominal Pd film thicknesses, are due to the increasing PdSiO2 boundary as the thickness is reduced.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
1990. Vol. 41, nr 1-3, s. 137-138
Nationell ämneskategori
Den kondenserade materiens fysik
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-118354DOI: 10.1016/S0042-207X(05)80139-3OAI: oai:DiVA.org:liu-118354DiVA, id: diva2:814578
Tillgänglig från: 2015-05-27 Skapad: 2015-05-27 Senast uppdaterad: 2017-12-04

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Personposter BETA

Eriksson, MatsHultman, Lars

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Eriksson, MatsHultman, Lars
Av organisationen
Kemiska och optiska sensorsystemTekniska fakultetenTunnfilmsfysik
I samma tidskrift
Vacuum
Den kondenserade materiens fysik

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 275 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf