liu.seSök publikationer i DiVA
Ändra sökning
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf
Spectroscopic ellipsometry and vector network analysis for determination of the electromagnetic response in two wavelength regions
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Tillämpad optik. Linköpings universitet, Tekniska högskolan. Department of Sensor Technology, Swedish Defense Research Agency, Linköping, Sweden.
Department of Sensor Technology, Swedish Defense Research Agency, Linköping, Sweden.
Department of Sensor Technology, Swedish Defense Research Agency, Linköping, Sweden.
Linköpings universitet, Institutionen för fysik, kemi och biologi, Tillämpad optik. Linköpings universitet, Tekniska högskolan.ORCID-id: 0000-0001-9229-2028
Visa övriga samt affilieringar
2008 (Engelska)Ingår i: Physica Status Solidi. C: Current Topics in Solid State Physics, ISSN 1862-6351, Vol. 5, nr 5, s. 1089-1092Artikel i tidskrift (Refereegranskat) Published
Abstract [en]

In this work, spectroscopic ellipsometry and vector network analysis are used to determine the electromagnetic response of three samples, an epoxy polymer, a sample with ferrit-based nanoparticles in a polymer matrix and silicon, in the wavelength ranges 0.4-30 μm and 0.75-7.59 cm. Both methods measure amplitude and phase changes due to interaction with a sample and can be used to measure the full complex-valued dielectric response to electromagnetic radiation. The data from the two methods show similar levels of the response at the two ends of the spectral gap between the ranges of the two methods.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Weinheim, Germany: Wiley-VCH Verlagsgesellschaft, 2008. Vol. 5, nr 5, s. 1089-1092
Nyckelord [en]
07.57.Pt; 07.60.Fs; 13.40.−f; 78.20.Ci; 81.70.Fy
Nationell ämneskategori
Naturvetenskap
Identifikatorer
URN: urn:nbn:se:liu:diva-42736DOI: 10.1002/pssc.200777900ISI: 000256862500021Lokalt ID: 68463OAI: oai:DiVA.org:liu-42736DiVA, id: diva2:263593
Tillgänglig från: 2009-10-10 Skapad: 2009-10-10 Senast uppdaterad: 2015-03-13Bibliografiskt granskad
Ingår i avhandling
1. Optical Studies of Materials for Spectral Design
Öppna denna publikation i ny flik eller fönster >>Optical Studies of Materials for Spectral Design
2015 (Engelska)Licentiatavhandling, sammanläggning (Övrigt vetenskapligt)
Abstract [en]

Optical material properties have been studied in a wide wavelength range. Theaim is future use of spectral design for camou age. The main characterization techniques used in this work are Refection Spectroscopy, Scatterometry (BRDF) and Mueller Matrix Ellipsometry. Six camouflage evaluation criteria based on reflection, emissivity, polarization, gloss, dynamic coloring and broadband properties, are to a greater or lesser degree related to the interaction between light and materia. Almost all are connected to the work of this thesis and are exemplied through dierent material categories with potential for use in camouföage applications. The included papers presents: a broad band (visible-infrared-microwave) study, two examples of dynamic optical properties of thin lms, and polarization and scattering properties of a natural surface.

Ort, förlag, år, upplaga, sidor
Linköping: Linköping University Electronic Press, 2015. s. 29
Serie
Linköping Studies in Science and Technology. Thesis, ISSN 0280-7971 ; 1712
Nationell ämneskategori
Fysik
Identifikatorer
urn:nbn:se:liu:diva-115369 (URN)10.3384/lic.diva-115369 (DOI)978-91-7519-106-5 (ISBN)
Presentation
2015-04-10, Planck, Fysikhuset, Campus US, Linköpings universitet, Linköping, 10:15 (Svenska)
Opponent
Handledare
Tillgänglig från: 2015-03-13 Skapad: 2015-03-13 Senast uppdaterad: 2019-11-18Bibliografiskt granskad

Open Access i DiVA

Fulltext saknas i DiVA

Övriga länkar

Förlagets fulltext

Person

Åkerlind, ChristinaArwin, HansJärrendahl, Kenneth

Sök vidare i DiVA

Av författaren/redaktören
Åkerlind, ChristinaArwin, HansJärrendahl, Kenneth
Av organisationen
Tillämpad optikTekniska högskolan
Naturvetenskap

Sök vidare utanför DiVA

GoogleGoogle Scholar

doi
urn-nbn

Altmetricpoäng

doi
urn-nbn
Totalt: 224 träffar
RefereraExporteraLänk till posten
Permanent länk

Direktlänk
Referera
Referensformat
  • apa
  • ieee
  • modern-language-association-8th-edition
  • vancouver
  • oxford
  • Annat format
Fler format
Språk
  • de-DE
  • en-GB
  • en-US
  • fi-FI
  • nn-NO
  • nn-NB
  • sv-SE
  • Annat språk
Fler språk
Utmatningsformat
  • html
  • text
  • asciidoc
  • rtf